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膜厚测量套件

简要描述:NS-OEM系列(膜厚测量套件)是基于 NS-20 薄膜测厚仪研发的。其光学探头设计得较为紧凑,可适用于多种安装环境。为确保测量精准,光学探头需与样品表面保持垂直,建议使用我们配备的调角工具来精准调节安装角度。光学探头经由光纤连接到主机,光纤长度灵活可变,能够满足不同布局的安装需求。

基础信息

产品型号

NS-OEM

厂商性质

生产厂家

更新时间

2025-11-04

浏览次数

134
详细介绍
品牌Acuitik价格区间面议
产地类别国产应用领域生物产业,能源,电子/电池,包装/造纸/印刷,汽车及零部件
NS-OEM系列(膜厚测量套件)是基于 NS-20 薄膜测厚仪研发的,用于太阳能钙钛矿多层膜厚测量,其光学探头设计得较为紧凑,可适用于多种安装环境。为确保测量精准,光学探头需与样品表面保持垂直,建议使用我们配备的调角工具来精准调节安装角度。光学探头经由光纤连接到主机,光纤长度灵活可变,能够满足不同布局的安装需求。
- 波长范围:190-1000 nm 或 350-1100 nm.
- 光学探头专为集成到自动化设备、在线系统、真空腔室、原位生长腔室以及其他特殊环境而设计,以满足多样化的应用需求。
NS-OEM系列(膜厚测量套件)
参数规格

参数规格

1、取决于被测样品材料以及选用的波段范围;

2、选用硅晶圆上的二氧化硅标准厚度样品 (厚度范围500~1000nm);
3、计算100次测量500nm SiO2标准片的1倍标准偏差,对20个有效测量日的1倍标准偏差取平均;
4、取决于配方复杂度,标准案例为硅晶圆上的二氧化硅标准厚度测量配方。
 
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