白光干涉膜厚仪

简要描述：NS-20 AcuiTik 是一款高性价比白光干涉膜厚仪，采用垂直入射高稳定宽波段光的光学干涉原理，实现纳米至微米级透明或半透明膜层厚度、反射率及折射率的测量。具备国产化软硬件、高精度与稳定性、非接触测量及智能化算法等特点，适用于多层复合薄膜测量。

基础信息

产品型号

NS-20

厂商性质

生产厂家

更新时间

2025-11-04

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产品分类

PRODUCT CLASSIFICATION

膜厚仪

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详细介绍

价格区间	10万-20万	产地类别	国产
应用领域	生物产业,能源,电子/电池,包装/造纸/印刷,汽车及零部件

　　NS-20 白光干涉膜厚仪（国产自研，自主可控）是一款桌面式手动膜厚测量分析系统，可用于coating胶厚监控测量。在保证整体小巧轻盈的同时，其准确度和稳定性丝毫未减。拥有NanoSense系列所有的算法软件功能，性价比高。

　　一、核心原理：

　　垂直入射的高稳定宽波段光入射到样品表面，在各膜层之间产生光学干涉现象，反射光经过光谱分析以及回归算法可计算出薄膜各层的厚度。适合测量纳米级至微米级的透明或半透明膜层的厚度、反射率、折射率等参数。

　　二、产品特色：

　　1、测量范围：可测量1纳米到250微米的薄膜厚度、折射率、反射率。

　　2、非接触测量：可测量硬质材料、软质材料或表面易受损的样品。

　　3、多层膜测量能力：可以测量多层复合薄膜各层的厚度。

　　4、高精度，高稳定性：亚纳米级厚度测量精度，静态稳定性可达0.02纳米。

　　5、智能化算法：核心IP算法，一键式测量大跨度膜厚，极大简化测量流程。

　　6、特色软件功能：自研PolarX分析软件，包含配方预测验证、特殊材料捏合等功能。

　　三、核心功能：

　　四、实测结果展示：
光学非接触手动薄膜膜厚测厚仪实测结果展示

　　五、特别说明：

　　1、手动测量，高灵活度；

　　2、可定制便携手提箱，随时随地进行膜厚分析；

　　3、可选配大尺寸样品台；

　　六、悉识膜厚仪NS-20系列参数规格：

参数规格

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