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产品型号
NS-Vista -
厂商性质
生产厂家 -
更新时间
2025-11-04 -
浏览次数
182
产品描述
NS-Vista 反射透射测量双通道膜厚仪是一款技术先进的桌面薄膜厚度测量与分析系统。它具备同时测量反射率和透射率的能力，在测量高反射率或低反射率的样本时极为强大。
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NS-Vista厂商性质
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NS-Vista 反射透射测量双通道膜厚仪是一款技术先进的桌面薄膜厚度测量与分析系统。它具备同时测量反射率和透射率的能力，在测量高反射率或低反射率的样本时极为强大。
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NS-Touch厂商性质
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163产品描述
NS-Touch NIR 手持式曲面涂层薄膜测厚仪（弯曲表面膜厚仪）是悉识科技（AcuiTik）推出的一款专为测量弯曲表面薄膜厚度而设计的手持式设备。
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NS-Touch厂商性质
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170产品描述
NS-Touch 疏水层纳米厚度测量仪是一种先进的手持式薄膜测量系统，同时也用于阳极氧化膜厚测量，具有显著的价格优势，可用于眼镜片硬化膜厚度测试。
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NS-30系列厂商性质
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159产品描述
NS-30系列是苏州悉识科技有限公司生产的桌面式自动膜厚测量分析系统，专门用于Wafer晶圆外延在线膜厚监控。
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NS-30厂商性质
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2025-11-04浏览次数
95产品描述
NS-30半导体薄膜非接触测厚仪是一款基于白光干涉原理的高精度测量设备，特别适用于需要自动化测量和精准厚度分布分析的场景。
