NS-Touch 疏水层纳米厚度测量仪是一种先进的手持式薄膜测量系统，具有显著的价格优势，可用于眼镜片硬化膜厚度测试。能够在几秒钟内快速分析薄膜的反射光谱数据，并分析单层和多层薄膜的厚度。专用的手持式探头方便测量诸如眼镜、车灯等弯曲表面。
一、ACUITIK NS-Touch 曲面测厚仪器主要功能
1、硬化膜厚度测量（Hard Coating）
- 可以同时测量硬涂层和底漆层的厚度。
2、抗反射涂层厚度测量（AR Coating）
- 操作便捷：测量弧面眼镜上的减反射膜以及其他光学镜片上的减反射膜。
3、疏水层厚度测量 (Hydrophobic Layer)
- 疏水层非常薄，大约只有一百个原子的厚度，因此需要使用短波长的紫外线来进行测量。
二、NS-Touch 弯曲表面膜厚仪（手持）的特色
1、提高精度：最小化背反射干扰，确保测量结果更精确、更可靠。
2、轻松校准：AutoCal算法让用户摆脱了日常校准的繁琐。
3、简易操作：得益于自动样品检测算法，使得测量过程直观且易于使用。
三、NS-Touch系列参数规格
1、取决于具体材料
2、Si/SiO2(500~1000nm)标样片
3、计算100次测量500nm SiO2标准片的1倍标准偏差，对20个有效测量日的1倍标准偏差取平均
4、计算100次测量500nm SiO2标准片的平均值，对20个有效测量日的平均值做2倍标准偏差
NS-Touch测量示例，镜片上的减反射涂层（AR coating) 膜厚测量
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