NS-Vista 反射透射测量双通道膜厚仪
简要描述：NS-Vista 反射透射测量双通道膜厚仪是一款技术优良的桌面薄膜厚度测量与分析系统。它具备同时测量反射率和透射率的能力，在测量高反射率或低反射率的样本时极为强大。
详细介绍
| 品牌 | Acuitik | 价格区间 | 面议 |
|---|
| 产地类别 | 国产 | 应用领域 | 能源,电子/电池,包装/造纸/印刷,制药/生物制药,汽车及零部件 |
|---|
NS-Vista 反射透射测量双通道膜厚仪（国家实验室膜厚测量解决方案）是一款技术优良的桌面薄膜厚度测量与分析系统。它具备同时测量反射率和透射率的能力，在测量高反射率或低反射率的样本时极为强大。此外Vista Learning算法专为测量表面非常粗糙且极厚的应用场景设计。反射通道的光斑尺寸可轻松从 1.5 毫米调节至 0.2 毫米，这大大拓展了厚度测量的应用范围。作为一款桌面设备，NS-Vista 代表了该领域的优良技术。
一、NS-Vista 反射透射测量双通道膜厚仪的特色：
1、双通道同时测量反射率与透射率，皆可结算厚度；
2、测量高反射率与低反射率样品能力，玻璃基底的膜厚测量不再难；
3、0.2mm到1.5mm光斑超宽动态调整范围；
4、Vista Learning 算法专为测量表面非常粗糙且极厚的应用场景设计；
二、参数规格：
1、取决于具体材料；
2、Si/SiO2(500~1000nm)标样片；
3、计算100次测量500nm SiO2标准片的1倍标准偏差，对20个有效测量日的1倍标准偏差取平均；
4、计算100次测量500nm SiO2标准片的平均值，对20个有效测量日的平均值做2倍标准偏差。
在线留言
产品分类
相关文章
上一篇
