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弯曲表面膜厚仪(手持)

简要描述:NS-Touch 弯曲表面膜厚仪(手持)是一种优良的手持式薄膜测量系统,具有显著的价格优势。能够在几秒钟内快速分析薄膜的反射光谱数据,并分析单层和多层薄膜的厚度。专用的手持式探头方便测量诸如眼镜、车灯等弯曲表面。

基础信息

产品型号

NS-Touch

厂商性质

生产厂家

更新时间

2025-11-04

浏览次数

153
详细介绍
品牌Acuitik价格区间面议
产地类别国产应用领域生物产业,能源,包装/造纸/印刷,汽车及零部件
NS-Touch 弯曲表面膜厚仪(手持)是一种优良的手持式薄膜测量系统,具有显著的价格优势,可用于眼镜片硬化膜厚度测试。能够在几秒钟内快速分析薄膜的反射光谱数据,并分析单层和多层薄膜的厚度。专用的手持式探头方便测量诸如眼镜、车灯等弯曲表面。

ACUITIK NS-Touch 曲面测厚仪

一、ACUITIK NS-Touch 曲面测厚仪器主要功能

1、抗反射涂层厚度测量(AR Coating)
- 操作便捷:测量弧面眼镜上的减反射膜以及其他光学镜片上的减反射膜。
2、硬化膜厚度测量(Hard Coating)
- 可以同时测量硬涂层和底漆层的厚度。
3、疏水层厚度测量 (Hydrophobic Layer)
- 疏水层非常薄,大约只有一百个原子的厚度,因此需要使用短波长的紫外线来进行测量。
二、NS-Touch 弯曲表面膜厚仪(手持)的特色
1、轻松校准:AutoCal算法让用户摆脱了日常校准的繁琐。
2、提高精度:最小化背反射干扰,确保测量结果更精确、更可靠。
3、简易操作:得益于自动样品检测算法,使得测量过程直观且易于使用。
三、NS-Touch系列参数规格
型号 NS-TouchUV NS-Touch NS-Touch NIR
波长范围 190 nm – 1100 nm 380 nm – 1050 nm 950 nm – 1700 nm
厚度测量范围1 0.02 μm – 40 μm 0.05 μm – 80 μm 0.1 μm – 250 μm
准确度2 0.01 μm or 0.2% 0.01 μm or 0.2% 0.02 μm or 0.4%
精度3 0.001 μm 0.001 μm 0.002 μm
稳定性4 0.001 μm 0.001 μm 0.002 μm
光斑大小 100 μm 100 μm 100 μm
测量速度 < 1s(单次测量) < 1s(单次测量) < 1s(单次测量)
光源 卤钨灯 + 氘灯 卤钨灯 卤钨灯
样品尺寸 直径从1mm  300mm或更大 直径从1mm  300mm或更大 直径从1mm  300mm或更大
1、取决于具体材料
2、Si/SiO2(500~1000nm)标样片
3、计算100次测量500nm SiO2标准片的1倍标准偏差,对20个有效测量日的1倍标准偏差取平均
4、计算100次测量500nm SiO2标准片的平均值,对20个有效测量日的平均值做2倍标准偏差
NS-Touch测量示例,镜片上的减反射涂层(AR coating) 膜厚测量
NS-Touch测量示例
NS-Touch重复精度示例,镜片上的硬化膜涂层(Hard coating) 膜厚测量稳定性1-sigma标准偏差小于0.001微米。
NS-Touch重复精度示例
 
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