NS-Touch 弯曲表面膜厚仪(手持)是一种优良的手持式薄膜测量系统,具有显著的价格优势,可用于眼镜片硬化膜厚度测试。能够在几秒钟内快速分析薄膜的反射光谱数据,并分析单层和多层薄膜的厚度。专用的手持式探头方便测量诸如眼镜、车灯等弯曲表面。

一、ACUITIK NS-Touch 曲面测厚仪器主要功能
1、抗反射涂层厚度测量(AR Coating)
- 操作便捷:测量弧面眼镜上的减反射膜以及其他光学镜片上的减反射膜。
2、硬化膜厚度测量(Hard Coating)
- 可以同时测量硬涂层和底漆层的厚度。
3、疏水层厚度测量 (Hydrophobic Layer)
- 疏水层非常薄,大约只有一百个原子的厚度,因此需要使用短波长的紫外线来进行测量。
二、NS-Touch 弯曲表面膜厚仪(手持)的特色
1、轻松校准:AutoCal算法让用户摆脱了日常校准的繁琐。
2、提高精度:最小化背反射干扰,确保测量结果更精确、更可靠。
3、简易操作:得益于自动样品检测算法,使得测量过程直观且易于使用。
三、NS-Touch系列参数规格
| 型号 | NS-TouchUV | NS-Touch | NS-Touch NIR |
| 波长范围 | 190 nm – 1100 nm | 380 nm – 1050 nm | 950 nm – 1700 nm |
| 厚度测量范围1 | 0.02 μm – 40 μm | 0.05 μm – 80 μm | 0.1 μm – 250 μm |
| 准确度2 | 0.01 μm or 0.2% | 0.01 μm or 0.2% | 0.02 μm or 0.4% |
| 精度3 | 0.001 μm | 0.001 μm | 0.002 μm |
| 稳定性4 | 0.001 μm | 0.001 μm | 0.002 μm |
| 光斑大小 | 100 μm | 100 μm | 100 μm |
| 测量速度 | < 1s(单次测量) | < 1s(单次测量) | < 1s(单次测量) |
| 光源 | 卤钨灯 + 氘灯 | 卤钨灯 | 卤钨灯 |
| 样品尺寸 | 直径从1mm 到 300mm或更大 | 直径从1mm 到 300mm或更大 | 直径从1mm 到 300mm或更大 |
1、取决于具体材料
2、Si/SiO2(500~1000nm)标样片
3、计算100次测量500nm SiO2标准片的1倍标准偏差,对20个有效测量日的1倍标准偏差取平均
4、计算100次测量500nm SiO2标准片的平均值,对20个有效测量日的平均值做2倍标准偏差
NS-Touch测量示例,镜片上的减反射涂层(AR coating) 膜厚测量
