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NS-20 非接触式膜厚仪

简要描述:NS-20 非接触式膜厚仪是桌面式手动膜厚测量分析系统。在保证整体小巧轻盈的同时,其准确度和稳定性丝毫未减。拥有NanoSense系列所有的算法软件功能,性价比高。

基础信息

产品型号

厂商性质

生产厂家

更新时间

2025-11-17

浏览次数

124
详细介绍
品牌Acuitik价格区间面议
产地类别国产应用领域化工,电子/电池,综合
悉识 NS-20 替代 F20系列是桌面式手动膜厚测量分析系统。NS-20 非接触式膜厚仪在保证整体小巧轻盈的同时,其准确度和稳定性丝毫未减。拥有NanoSense系列所有的算法软件功能,性价比高。

NS-20 非接触式膜厚仪

一、NS-20 非接触式膜厚仪的特色

1、手动测量,灵活度高;
2、标准版光斑0.8~1.5 mm;
3、可升级到0.2 mm 微小光斑(NS-20 Pro);
4、可定制便携手提箱,随时随地进行膜厚分析;
5、可选配大尺寸样品台;
二、NS-20系列 参数规格
型号NS-20UVNS-20NS-20NIR
波长范围190 nm – 1100 nm380 nm – 1050 nm950 nm – 1700 nm
厚度测量范围11 nm – 40 μm15 nm – 80 μm150 nm – 250 μm
准确度21 nm 0.2%2 nm 0.2%3 nm 0.4%
精度30.02 nm0.02 nm0.1 nm
稳定性40.05 nm0.05 nm0.12 nm
光斑大小1.5 mm1.5 mm1.5 mm
测量速度< 1s(单次测量)< 1s(单次测量)< 1s(单次测量)
光源卤钨灯 + 氘灯卤钨灯卤钨灯
样品尺寸直径从1mm 300mm或更大直径从1mm 300mm或更大直径从1mm 300mm或更大
1、取决于具体材料;
2、Si/SiO2(500~1000nm)标样片;
3、计算100次测量500nm SiO2标准片的1倍标准偏差,对20个有效测量日的1倍标准偏差取平均;
4、计算100次测量500nm SiO2标准片的平均值,对20个有效测量日的平均值做2倍标准偏差。


 
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