简要描述：悉识科技 光学非接触 手动薄膜膜厚测厚仪AcuiTik白光干涉膜厚测厚仪NS-20采用垂直入射高稳定宽波段光的光学干涉原理，实现纳米至微米级透明或半透明膜层厚度、反射率及折射率的测量。具备国产化软硬件、高精度与稳定性、非接触测量及智能化算法等特点，适用于多层复合薄膜测量。产品包括桌面式手动测量系统悉识膜厚仪NS-20系列，具有高灵活性与便携性，适合多种应用场景。

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