在精密制造、半导体、光学加工等领域,膜厚测量的准确性直接影响产品质量与工艺优化。高性价比白光干涉膜厚仪凭借非接触式测量、纳米级精度及智能化功能,成为高性价比之选,以下从作用与产品特色两方面展开说明:
1.非接触式无损测量:通过白光干涉技术,无需物理接触即可完成对样品表面的检测,避免对柔软或易损材料(如光刻胶、生物涂层)的破坏,尤其适用于精密器件和脆弱样本的检测。
2.亚纳米级高精度测量:垂直分辨率可达0.1nm,重复性精度高,能精准捕捉表面微观形貌差异,满足半导体晶圆、光学薄膜等超精密加工领域的严苛要求。
3.多功能综合分析:可同时实现三维形貌重建、粗糙度分析(Ra/Rz/Rq等参数)、台阶高度测量、曲率半径评估等功能,覆盖从超光滑镜面到粗糙表面的全类型样品。
4.高效批量检测能力:支持多区域自动测量、图像无缝拼接及编程自动化操作,结合批量数据分析模板,显著提升生产线质检效率。
二、高性价比白光干涉膜厚仪产品特色:
1.性价比优势突出:设备体积小巧、安装简便,且无需更换耗材(如LED光源寿命长),降低初期投入与维护成本。
2.智能化操作设计:配备电动平台、自动对焦与条纹搜索功能,简化复杂测量流程;部分机型集成AI多焦面叠加技术,自动适配最佳测量模式。
3.环境适应性强:采用气浮隔振系统、防撞传感器及噪声评价模块,有效抵御振动与声波干扰,确保在工业现场稳定运行。
4.数据深度处理与安全保护:提供校平、滤波、区域提取等数据处理工具,以及五大分析模块(粗糙度/几何轮廓/结构/频率/功能分析);光源与镜头双重安全防护机制延长设备寿命。
