高性价光学干涉膜厚仪在眼镜片硬化膜厚度测试中正日益成为高精度、非接触检测的较好选择。凭借其优异的测量精度与对透明/半透明薄膜的强大解析能力,它为眼镜制造行业提供了可靠的质量保障和技术支撑。

一、为什么选择光学干涉膜厚仪?
1、非接触、无损测量
- 不损伤镜片表面,尤其适合已镀多层膜(如硬化膜+减反射膜+防污膜)的成品镜片;
- 无需耦合剂或物理接触,避免污染或划伤。
2、高精度与高分辨率
- 测量精度可达 纳米级(±1 nm 或更高);
- 能清晰分辨 2–10 μm 范围内的硬化膜厚度,甚至识别亚微米级的膜层变化。
3、适用于透明介质
- 硬化膜通常为二氧化硅(SiO?)、有机硅烷等透明材料,基底为树脂(CR-39、PC、MR 系列等);
- 光学干涉法基于光在膜层上下界面的反射干涉信号,天然适配此类结构。
4、可实现面分布分析
- 部分设备支持 mapping 功能,可生成整片镜片上硬化膜厚度的二维分布图,评估均匀性;
- 对曲面镜片(如渐进多焦点镜片)也能通过软件补偿曲率影响。
二、工作原理简述
- 高性价比白光干涉膜厚仪(如白光干涉仪或光谱反射仪)利用 宽带光源照射样品,光在空气-硬化膜界面和硬化膜-树脂基底界面分别反射,形成干涉信号。 - 通过分析反射光谱的干涉条纹(或相位差),结合已知的膜层折射率,即可反演出膜厚:
- 现代仪器通过拟合整个光谱曲线,自动解算膜厚值,无需手动判读条纹。
三、典型应用场景
1、研发阶段:优化硬化液配方、固化工艺参数,快速验证不同工艺下的膜厚效果
2、来料检验:检测外购半成品镜片的硬化膜是否达标
3、生产过程控制:在线或离线抽检,确保批次一致性
4、失效分析:当镜片出现脱膜、雾化等问题时,回溯膜厚是否异常
四、操作流程示例
1、样品准备:清洁镜片表面,确保无指纹、灰尘;
2、参数设置:输入硬化膜材料类型(如 SiO?,n ≈ 1.46)或通过标准片标定折射率;
3、放置样品:将镜片置于载物台,对准测量区域(中心或边缘);
4、自动测量:仪器采集光谱并实时计算膜厚;
5、数据输出:显示数值、保存报告,支持SPC统计分析。
注:对于高曲率镜片,部分设备配备自动对焦和曲面补偿算法,确保测量准确性!
五、优势对比(vs 超声波膜厚仪)
